CONVOCATORIA Candidato/a a Beca Profesional / Técnica - Rayos X

Tema: Caracterización estructural por Difracción de Rayos X de films delgados, multicapas y Dispositivos

El Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia-CAC incorporara en 2022 un difractometro de rayos X para la caracterizacion de films delgados y dispositivos micro y nanoestructurados que sera parte de la facilidad común de Caracterización Estructural del mismo. El becario estara a cargo de la operacion y mantenimiento del difractometro; la coordinacion y gestion de la compra de insumos y respuestos para el equipo ; la coordinacion de las visitas de los servicios técnicos; el brindar asistencia y formar a nuevos usuarios; asistir a cursos de capacitación y redactar informes técnicos cuando sea necesario. Se ofrece la posibilidad realizar cursos y estancias de capacitacion en nuestro país y en laboratorios europeos.

Requisitos: Estudiante Avanzado (+60% carrera) o graduado en ciencias físicas , ciencias químicas, ciencia de materiales, ingeniería electrónica, ingeniería en física médica, ingeniería biomédica, ingeniería química o carreras afines. Técnico electrónico, electro-mecánico, quimico y títulos afines.
Otros: Capacidad de trabajo en equipo, habilidades comunicativas, actitud proactiva, responsabilidad, buen trato y compromiso.

Idioma: buen dominio de lectura de ingles técnico.
Duracion: 3 años

Responsable: Dr. Diego Rubi

Contacto: inn@cnea.gob.ar