Compartimos la excelente noticia de haber recibido hace pocos días uno de los primeros equipos propios, el Microscopio de sonda local multitécnicas, de incorporación inmediata a la plataforma experimental del INN, en este caso en el laboratorio del Centro Atómico Constituyentes.
El equipo, una vez puesto en funcionamiento, será de acceso abierto a toda la comunidad del Instituto y accesible a través del sistema nacional de microscopía a otros organismos de ciencia y tecnología, universidades y empresas.
Se trata de un microscopio de fuerza atómica (AFM) de barrido de punta que combina, por primera vez, varias capacidades en un solo instrumento para permitir mediciones novedosas en materiales y ciencias biológicas. La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) es una técnica de medida superficial que se basa en la interacción de una punta afilada situada en el extremo de una palanca flexible con la superficie de la muestra manteniendo constante una pequeña fuerza de interacción.
Es un equipamiento fundamental para la investigación en nanociencia y nanotecnología, ya que es necesaria la manipulación de la materia a una escala nanométrica desde la topografía de los materiales hasta propiedades eléctricas y magnéticas. Esta tecnología viene desarrollándose velozmente y logrando importantes avances científicos en muchos sectores como la medicina, energía, materiales y fabricación.
