STAN Número: ST 4490 

Prestación: Mediciones de Nanoindentación en control por carga, hasta cargas máximas de 500 mN, o en control por desplazamiento, hasta profundidades máximas de 2 micrones.

Detalle de la prestación: Mediciones de nanoindentación con control por carga, hasta cargas máximas de 500 mN, o con control por desplazamiento, hasta profundidades máximas de 2 micrones. Determinación de módulo de indentación, dureza, creep, propiedades tribológicas y parámetros fractomecánicos. Mapeos de propiedades en una superficie. Se pueden medir películas delgadas (mínimo espesor: aprox. 100 nm) o materiales bulk (metales, polímeros, cerámicos, compuestos).

Equipamiento utilizado: Nanoindentador Agilent G200. Cabezal XP. Puntas: Berkovich, Cube Corner. 

Responsable técnico: MARIA CECILIA FUERTES

STAN Número: ST 4524 

Prestación: Espacialización y caracterización eléctrica de sensores solares para usos satelitales: Se adecuan sensores solares comerciales para ser utilizados en el espacio y se realiza la caracterización eléctrica en condiciones espaciales 

Detalle de la prestación: La prestación incluye el ensayo de recepción de componentes, el pegado del vidrio protector y la medición o mediciones de las características eléctricas y el sensor de temperatura si es que lo posee.

El trabajo que se realiza es la espacialización de sensores de posición para nanosatélites, para ello se acondiciona el sensor y se caracteriza la señal de los dispositivos para poder ser utilizados en el espacio. Se realiza un ensayo de recepción para ver la integridad y el correcto funcionamiento de los sensores que el cliente provee, luego se procede al pegado de vidrio protector (100 micrones, calidad espacial y dopado con cerio para amortiguar efectos de la radiación) en área limpia. Por último se realiza la caracterización eléctrica mediante la medición de la señal del sensor iluminado con espectro AM0 y utilizando una celda de referencia calibrada. Esta medición puede realizarse, según se requiera, con incidencia normal o a distintos ángulos de elevación y de rotación. 

Equipamiento utilizado: Sol artificial clase AAA 

Responsable técnico: MARIANA JULIA LUISA TAMASI 

STAN Número: ST 4559 

Prestación: Se realizan ensayos de componentes de sistemas fotovoltaicos bajo Norma IRAM y protocolos nacionales e internacionales 

Detalle de la prestación: La prestación incluye la recepción de los equipos a ensayar bajo procedimientos normados y la secuencia de ensayos previstos en la Norma.

Los ensayos que se realizan consisten en la recepción de los componentes, la caracterización eléctrica y mecánica de los módulos fotovoltaicos y el ensayo eléctrico de los cargadores, reguladores e inversores. Para ello es necesario seguir los procedimientos previstos en cada Norma específica para cada ensayo. Una vez concluida la secuencia de ensayos previstas y/o solicitadas se elabora un informe técnico detallando los resultados obtenidos y firmado por personal calificado que realizó el ensayo, el responsable técnico y el responsable del laboratorio. 

Responsable técnico: MONICA GLADYS MARTINEZ BOGADO

STAN Número: ST 4636

Detalle de la prestación:  La caracterización consiste en la determinación de la curva corriente-tensión característica, de la curva de la respuesta angular y de curva de la respuesta espectral del sensor de silicio del radiómetro fotovoltaico apto para medición de radiación solar global. Para la calibración de los sensores de radiación solar, el laboratorio dispone de procedimientos para la calibración en exterior (al Sol) y en interior con lámparas patrón y simulador solar. Estos procedimientos se basan en Normas Internacionales IEC e ISO. Se genera un documento interno con el procedimiento de caracterización y se entrega un certificado de calibración del sensor. 

Responsable técnico: MONICA GLADYS MARTINEZ BOGADO / MARIANA JULIA LUISA TAMASI

STAN Número: ST 5102

Detalle de la prestación: Se brindará asesoramiento a empresas u organizaciones que empleen polímeros hidrofílicos como insumos para la manufactura de sus productos. Se hará hincapié en el análisis de las cadenas de proceso de purificación y control de calidad de estos polímeros, empleados como componentes del producto final.

Se analizarán las metodologías de síntesis, purificación y caracterización de polímeros disponibles en el mercado, empleados para la manufactura de productos de la empresa/organización solicitante. En función de las necesidades requeridas, se elaborará un reporte escrito donde se establecerán los parámetros óptimos y métodos de análisis para mejorar y controlar etapas del proceso de producción.

Responsable técnico: ANDREA VERONICA BORDONI / ALEJANDRO WOLOSIUK

STAN Número: ST 5269

Detalle de la prestación: Nanoindentación por microscopía de fuerza atómica. Este equipo permite realizar indentaciones de manera controlada por presión o carga, hasta fuerzas de 150 microN, en área localizadas a escala nano y la posterior caracterización in situ de la muestra indentada. Se realizan determinaciones de módulo de young y dureza, en diferentes áreas de la muestra. Se pueden medir películas delgadas o materiales bulk especialmente pulidos. 

Las mediciones de nanoindentacion utilizando un equipo de microscopia de fuerza atómica Bruker Dimension 3100, con puntas de diamante para nanoindentacion. Carga máxima 150 a 300 micro Newtons. Se realiza en primer lugar un estudio de factibilidad orientado a establecer la viabilidad de la medición de propiedades topográficas y mecánicas de las muestras. Se realiza la caracterización de la topografía y las propiedades mecánicas de las muestras, de acuerdo la información requerida por contratante y los protocolos aprobados. Se elaborará un informe técnico que incluirá las mediciones, realizadas y el análisis correspondiente. 

Equipamiento utilizado: Equipo de microscopia de fuerza atómica Bruker Dimension 3100

Responsable técnico: MARTIN SIRENA

STAN Número: ST 5497

Detalle de la prestación: El curso está destinado a investigadores, técnicos, profesionales de instituciones públicas, tomadores de decisiones, relacionados con el área aeroespacial y nuclear.

El curso se aboca a los efectos de radiación ionizante en circuitos electrónicos. Comprende una introducción a microelectrónica, descripción de ambientes con radiación ionizante, efectos de dosis total (TID), efectos transitorios (SEE) y daño por desplazamiento (DD). Dictado de clases teóricas de manera presencial o virtual, con presentaciones preparadas ad hoc para ello. El curso consta de cinco módulos teóricos de cuatro horas cada uno y en caso de requerirse hasta dos módulos de cuatro horas de simulación libres. Se dictará el curso ante los asistentes que el solicitante disponga, entregarán preguntas de evaluación y corregirá la evaluación. La plataforma para el dictado del curso y dictado virtual serán provistas por el solicitante

Responsable técnico: JOSE LIPOVETZKY

STAN Número: ST 5525

Detalle de la prestación: Los billetes de circulación actual poseen una cinta o hilo metálico con sectores de material magnético. Para su utilización deben cumplir, entre otras, las características magnéticas solicitadas al proveedor. Para asegurar estas características se deben realizar mediciones de magnetización en función de campo magnético de este material para determinar la magnetización de saturación y el campo coercitivo del mismo. Esto se realiza con un magnetómetro. 

Previo a la medición de cada lote recibido se debe realizar la calibración del magnetómetro y posteriormente se caracterizará con la medición de las magnetización en función de campo magnético (a temperatura ambiente) de las cintas. Con estos datos se realiza en análisis de los datos de las mediciones y la confección del informe correspondiente.

Equipamiento utilizado: magnetómetro de muestra vibrante

Responsable técnico: ROBERTO DANIEL ZYSLER / CARLOS ALBERTO RAMOS

STAN Número: ST 5547

Detalle de la prestación: Enseñanza de conceptos de formación y actualización en energía solar fotovoltaica (ESFV) relacionados con celdas, sensores y paneles solares para aplicaciones terrestres y espaciales. Permite a técnicos y profesionales, en el campo de energía acceder y actualizar conocimientos en el estado de la técnica de la ESFV. Asesoramiento en simulación y dimensionamiento de sistemas fotovoltaicos conectados a la red y sistemas autónomos.

Metodología: Se incluyen clases teóricas y prácticas de manera presencial o virtual. Prácticas de laboratorio con el equipamiento según las necesidades del contratante y disponibilidad de materiales e instrumentos. Se abarcan los conceptos básicos vinculados con el recurso solar, dimensionamiento de sistemas fotovoltaicos y estado de la técnica a nivel mundial y regional. El curso y el asesoramiento se adaptarán a las necesidades del contratante, puede estar orientado a técnicos, estudiantes o profesionales.

Responsable técnico: MONICA GLADYS MARTINEZ BOGADO  / MARIANA JULIA LUISA TAMASI

STAN Número: ST 6358

Detalle de la prestación: A partir de las definiciones de los procesos de interés por parte de la contraparte y las necesidades de asesoramiento planteadas, se realiza un análisis del estado del arte y antecedentes en el tema para la elaboración del informe correspondiente. Se describen los procesos de micro y nanofabricación aplicables de acuerdo a los requerimientos técnicos presentados. Se analizan las ventajas y desventajas de cada proceso, con un análisis de las limitaciones técnicas y alcance de los mismos. En base a los contenidos expuestos, se recomiendan diferentes procesos para la fabricación de dispositivos de interés. El servicio termina con la elaboración y presentación de un informe final del asesoramiento. En caso que el asesoramiento derive en involucrar el know-how y/o participación en actividades de diseño/desarrollo, se deberán canalizar las actividades a través de un convenio específico.

Responsable técnico: MARTIN SIRENA

STAN Número: ST 6464/5/6/7/8

Detalle de la prestación:

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. 

El servicios consta de 5 prestaciones que pueden elegirse juntas o por separado y cada una tiene su propio entregable: 1) La máscara se dibuja en computadora a partir de la entrega de un patrón; 2) Escritura de la máscara patrón con un escritor láser UV; 3) Obtención de las películas delgadas por depósito de metales o no metales utilizando la técnica de pulverización catódica o evaporación térmica; 4) Litografía óptica para la transferencia del dibujo patrón en la máscara hacia un sustrato o film; 5) Dependiendo del material a seleccionar se realiza un comido químico húmedo sobre las películas depositadas. El entregable último es un sustrato, film o dispositivo con proceso de comido realizado.

Responsables técnicos:

NORBERTO BOGGIO; EDUARDO MARTINEZ

STAN Número: ST 6726

Detalle de la prestación: El servicio consiste en ciclados isotérmicos en condiciones de humedad relativa (HR) controladas. Se realiza un acondicionamiento de la estufa a utilizar por control de temperatura (Tº) y HR, las cuales serán controladas luego durante el ciclado. Se aplica a procesos que requiera calentamiento con control preciso de Tº y medición de HR, por ej, ensayos de inactivación de virus y bacterias en áreas como alimentos, salud, biología y ambiente. El resultado final se plasma en un informe técnico

Metodología: El servicio de ciclado isotérmico consiste en el monitoreo y control en tiempo real de la temperatura y la HR con una precisión de +-1°C y +-5% HR respectivamente, empleando el controlador electrónico y una interfase de medición de HR de fabricación propia. El STAN culmina con la elaboración de un informe del registro de la evolución de los parámetros del ciclo térmico (temperatura; HR y tiempo).

El solicitante deberá proveer la estufa, preferentemente con un sistema de control y lectura de temperatura tipo Euroterm 2116 (o similar) con control de rampa y meseta isotérmica. La interfase de medición de HR será provista durante el servicio y utiliza un dispositivo tipo Arduino dotado de un sensor tipo cableado serie.

Responsable técnico: MORENO GOMEZ Mario Fredy  

STAN Número: ST 6844-6845-6846

Detalle de la prestación: El servicio tiene como objetivo caracterizar desde un punto de vista eléctrico y/o ante radiación ionizante ya sea por dosis total, efectos únicos o daño por desplazamiento de dispositivos semiconductores, circuitos integrados o circuitos electrónicos CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o Bipolar-CMOS. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas. La caracterización consta de tres partes que pueden contratarse por separado: a. Caracterización eléctrica de dispositivos y circuitos integrados; b. Caracterización ante radiación ionizante de dispositivos y circuitos integrados; y c. Verificación de circuitos integrados.

Metodología: 

Caracterización eléctrica de dispositivos y circuitos integrados CMOS:

A través de este servicio se pueden obtener características eléctricas tales como corrientes y tensiones en función del tiempo y señales de entrada de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS o Bipolar-CMOS. Para ello se armará el banco de testeo, incluyendo conexión eléctrica y generación de señales según requerimiento, adquiriendo los parámetros que resulten necesarios. Para la caracterización eléctrica de dispositivos fabricados en procesos CMOS o Bipolar-CMOS se pueden medir características de corriente, tensión y carga en función de tiempo, tensión y corriente. Las caracterizaciones se realizan empleando generadores de señales, osciloscopios hasta 1GHz, fuentes de laboratorio, multímetros, source measurement units, según requerimiento. El entregable serán archivos binarios con resultados y un informe.

Caracterización ante radiación ionizante de dispositivos y circuitos integrados CMOS: 

A partir de este servicio se evalúa el daño causado por radiación ionizante en circuitos integrados o dispositivos fabricados en procesos CMOS o Bipolar-CMOS. Incluye la caracterización eléctrica antes, durante y después de la exposición. El tipo de radiación a utilizar será determinado en función del tipo de daño esperado, y de ser requerido se realizará bajo normas y estándares internacionales. En caso de ser necesario incluirá la obtención de imágenes radiográficas utilizando un tubo de rayos X de microhaz usando como detector un sensor de imagen CMOS. Asimismo, si es necesario incluirá el proceso de desencapsulado. Las caracterizaciones se realizan empleando generadores de señales, osciloscopios hasta 2G, fuentes de laboratorio, multímetros, source measurement units, etc. La sensibilidad en mediciones de corriente es de 0,1pA hasta 10.5A, permitiendo mediciones pulsadas. La medición de tensiones es posible hasta 210V con sensibilidad de 100nV también de forma pulsada de ser necesario. El entregable serán archivos binarios con resultados y un informe.

Verificación de circuitos integrados:

A partir de especificaciones y datos de diseño provistos por el demandante, y los resultados de las caracterizaciones eléctricas y/o por radiación realizadas, se verificarán los circuitos integrados diseñados por terceros formalmente o mediante simulaciones. Se podrá incluir simulación por Monte Carlo utilizando Simulation Program with Integrated Circuits Emphasis (SPICE), elementos finitos, o primeros principios. En caso de usar software para simulaciones, se utilizarán licencias gratuitas, de acceso libre o provistas por el demandante en caso de ser necesario por razones de propiedad intelectual. El resultado será un informe y documentos técnicos con los resultados

Responsable técnico: Lipovetzky José

STAN Número: ST 6857

Detalle de la prestación: Se ofrece el procesamiento de muestras biológicas de origen animal (no humano), vegetal o microbiano, para obtener imágenes en microscopio electrónico de transmisión o en microscopio electrónico de barrido en modo STEM. El entregable resulta en la muestra montada en la grilla para su observación. El servicio está dirigido a organismos públicos académicos, de ciencia y tecnología, agencias gubernamentales de control, ONGs o instituciones privadas que requieran estos análisis.

Metodología: Se utilizan protocolos estandarizados para preparación de muestras biológicas para su observación en Microscopio Electrónico de Transmisión (MET); alternativamente se adaptan las técnicas de acuerdo al tipo y calidad de muestra. El usuario debe contactar al responsable para coordinar aspectos técnicos del procesado y definir protocolos, tanto de fijación como de inclusión de muestra, según el objetivo que el usuario persiga, siendo los protocolos muy disimiles en función de la muestra a analizar. La metodología estándar es la siguiente: una vez fijado el material por el usuario en el campo o en su laboratorio (generalmente utilizando glutaraldehído), se procede a la entrega de la muestra al responsable técnico. El responsable realiza la segunda fijación y contraste, en general, utilizando tetróxido de osmio. Alternativamente, puede realizarse un contraste en bloque utilizando acetato de uranilo. Luego se realiza un tren de deshidratación hasta tener la muestra en solución de etanol absoluto. Este último es reemplazado por acetona pura y luego esta se va reemplazando por la resina de inclusión. Se coloca la muestra en el molde junto con resina y se polimeriza. Luego se talla y se procede a realizar el corte ultrafino de la muestra (aprox 70nm de espesor). Se monta sobre una grilla para MET, en general de cobre y de 200 mesh, y se realiza el ultimo contraste con citrato de plomo. Se entrega al usuario y que debe almacenar al resguardo de la luz hasta su observación en MET o en MEB modo STEM; en este ultimo caso debe agregarse un recubrimiento de carbono por sputtering. Se ofrece el procesamiento de muestras biológicas de origen animal (no humano), vegetal o microbiano. El servicio no implica diagnóstico.

Responsable técnico: BERTOLI, Carlos

STAN Número: ST 6858

Detalle de la prestación: Se ofrece asesoramiento técnico-operativo para la planificación y realización de ensayos que requieran microscopio electrónico doble haz (FIBSEM): realizar lamelas, micro y nanotomografías destructivas y reformulación de circuitos electrónicos. Se asesora en cuestiones técnico-operativas para estudios de caracterización y cuantificación elemental en microscopio electrónico de barrido que posea detector EDS Oxford Max80. El STAN está dirigido a todo tipo de público y culmina con un informe.

Metodología:

Asesoramiento en cuestiones técnicas operativas para la planificación y realización de ensayos utilizando un microscopio electrónico doble haz (FIBSEM)

Se ofrece un curso específico según demanda en cuestiones técnicas operativas para la planificación y realización de un ensayo utilizando FIBSEM. Se hace uso de la experiencia del INN para definir los parámetros del equipo en función del material de estudio y las hipótesis planteadas por el usuario o demandante. Se cuenta con vasta experiencia realizando tomografías y reformulación de circuitos electrónicos. El responsable técnico es operador de SEM de TEM.

Asesoramiento en cuestiones técnicas operativas para microscopio electrónico de barrido (SEM) que posea un detector EDS Oxford Max80

Se ofrece un Curso complementario en cuestiones técnicas operativas para planificar y realizar un ensayo utilizando un microscopio electrónico de barrido (SEM) que posea un detector EDS Oxford Max80 para realizar ensayos de caracterización y cuantificación elemental. En este caso el INN también cuenta con amplia experiencia en la temática y el responsable técnico es autor de informes CNEA sobre técnicas de cuantificación de minerales y vidrios utilizando este detector EDS y validando los resultados contra los resultados de la técnica gold estándar utilizada en la descripción de los estándares obtenidos del “Smithsonian Institution”.

Responsable técnico: BERTOLI, Carlos; Perez Gagni, Diego Eugenio

STAN Número: ST 6881

Detalle de la prestación: Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías. Tubo de Cu, detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. El servicio está dirigido a empresas, organismos públicos de CyT o instituciones académicas que lo requieran.

Metodología: No se requiere preparación de la muestra, se pueden procesar en polvo, monolitos o películas soportadas. Se realizan barridos en ángulo, y se obtienen las intensidades difractadas, a partir de las cuales se pueden determinar fases cristalinas y tamaños de cristalita. Se pueden realizar mediciones con incidencia fija a bajo ángulo para evaluar cristalinidad de películas o recubrimientos. Posee un tubo de Cu (longitud de onda: 1,54 A), detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. Se cuenta con una cámara para realizar mediciones con humedad controlada. Se entrega un informe técnico con los datos medidos y el análisis de los datos en caso se requiera por el solicitante. Se pueden medir difractogramas entre 1 y 100º2tita, con un paso mínimo de 0.0001º y una resolución angular de 0.026º (FWHM en LaB6).

Responsable técnico: Fuertes, M. Cecilia

STAN Número: ST 6913

Detalle de la prestación: Se realiza el ajuste de un modelo y/o medición para la determinación de espesores e índices de refracción por medio de elipsometría de longitud de onda variable.

Metodología:

Modelado de un depósito multicapa para elipsometría

Se realiza ajuste de un modelo de elipsometría de un determinado depósito (de una o varias capas) sobre un sustrato. Elipsometría con barrido en longitud de onda Rangos de aplicación: depósitos transparentes o semitransparentes hasta 10um Entregable: archivo en formato .mdl e informe explicativo 

Determinación de espesores e índices de refracción multicapa por elipsometría

A partir de una muestra conocida (sustrato y una o varias capas depositadas) y un modelo de elipsometría ya establecido, se realiza una medición de parámetros delta-psi con los cuales se puede determinar el espesor e índice de refracción de cada capa. Elipsometría con barrido en longitud de onda Rangos de aplicación: películas desde 1nm hasta 10um Entregable: resultado de medición e informe explicativo.

Responsable técnico: Boggio, Norberto

STAN Número: ST 6919

Detalle de la prestación: Se realiza la caracterización dimensional de microestructuras (largo, ancho, espesor, rugosidad) obtenidas por procesos de microfabricación mediante la utilización del equipamiento adecuado (perfilómetro óptico y perfilómetro mecánico). Como resultados de dicha se entrega un informe con los detalles de las mediciones y los archivos conteniendo los datos de medición sin procesar. Las mediciones están destinadas a empresas o instituciones públicas o privadas, que requieran las mediciones citadas.

Metodología:

Determinación de escalón/imagen 3D con perfilometría óptica de 20nm a 1mm 

Determinación de rugosidad y altura de escalón/imagen 3D con perfilometría óptica Medición por técnica perfilometría óptica en modo “vertical scanning interferometry (VSI)” o “phase shifting interferometry (PSI)”. El modo PSI aplica a muestras de rugosidad menor a 10nm y escalones de alturas menores a 200nm. El modo VSI aplica a muestras de mayor rugosidad (hasta varios micrones) y alturas de hasta 4mm aproximadamente. Ambas técnicas arrojna por resultado un mapeo tridimensional de la muestra, del cual puede extraerse la altura de un escalón a medir, así como sus dimensiones en el plano. El proceso puede requerir metalización previa de las muestras. Tecnología: perfilometría óptica interferométrica Rangos de aplicación: rugosidad de 1nm a 200um, escalones de 20nm a 2mm Precisión: variable según la reflectancia de la muestra y método Entregable: archivos .opd , informe gráfico automatizado .pdf con gráficos vectoriales.

Determinación de escalón 2D con perfilometría mecánica 20nm a 0.8mm

Determinación de escalón 2D con perfilometría mecánica 20nm a 0.8mm Tecnología: perfilometría mecánica de contacto Rangos de aplicación: escalones de 15nm a 0.8mm Precisión: 2nm Entregable: archivos .xml , gráfica de escalón.

Determinación de curvatura superficial con perfilometría mecánica 2D

Determinación de curvatura con perfilometría mecánica 2D Tecnología: perfilometría mecánica de contacto Rangos de aplicación: curvatura mayor a 15nm Precisión: 2nm Entregable: archivos .xml , gráfica de curvatura.

Responsables técnicos: Boggio, Norberto; Salazar, Leonardo.